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激光測(cè)量設(shè)備

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Timegate時(shí)間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3
Timegate時(shí)間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3，具有多種潛在應(yīng)用。它可以作為實(shí)驗(yàn)室中的經(jīng)典臺(tái)式系統(tǒng)使用。但當(dāng)與顯微鏡連接或在帶有板式讀數(shù)器的高通量設(shè)置中使用時(shí)，也能取得令人印象深刻的結(jié)果。

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微型布里淵光譜儀
微型布里淵光譜儀，ALBA 通過標(biāo)準(zhǔn)單模保偏（SM/PM）光纖實(shí)現(xiàn)光學(xué)連接，兼容傳統(tǒng)光譜儀和顯微鏡，并能輕松集成，通過全光學(xué)、無標(biāo)記的布里淵彈性成像技術(shù)擴(kuò)展其功能，實(shí)現(xiàn)三維力學(xué)分析。

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中紅外光束分析儀
中紅外光束分析儀借助我們可選的光束輪廓分析軟件，可以立即顯示、導(dǎo)出和保存不同格式的強(qiáng)度分布和輪廓，以便進(jìn)行后續(xù)評(píng)估。

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quDIS六自由度激光干涉測(cè)量系統(tǒng)
quDIS六自由度激光干涉測(cè)量系統(tǒng)是一種用于校準(zhǔn)和評(píng)估各種運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)和機(jī)械的多軸精度的儀器。通常用于制造、機(jī)器人、數(shù)控機(jī)床和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等應(yīng)用領(lǐng)域，以保持設(shè)備的精度和可靠性。

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相位偏折測(cè)試系統(tǒng)
相位偏折測(cè)試系統(tǒng)，是基于相位測(cè)量偏折法的高精度 3D 表面檢測(cè)方案，覆蓋平面、曲面、多件并行與機(jī)器人引導(dǎo)等場(chǎng)景，單次測(cè)量即可完成形狀偏差與表面缺陷檢測(cè)，適配汽車、3C、半導(dǎo)體等行業(yè)的微米級(jí)質(zhì)量控制。

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AR近眼顯示測(cè)試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L
AR近眼顯示測(cè)試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L系統(tǒng)核心功能包括測(cè)量亮度、色度、對(duì)比度、視場(chǎng)角（FOV）和眼盒（eye-box）等關(guān)鍵參數(shù)，同時(shí)評(píng)估圖像均勻性、畸變、清晰度（如調(diào)制傳遞函數(shù)，MTF）、漏光/鬼影以及雙目融合/視差，這些指標(biāo)直接影響圖像質(zhì)量和視覺舒適度。?

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高性價(jià)比干涉式激光尺
高性價(jià)比干涉式激光尺摒棄了傳統(tǒng)激光干涉儀的分立光學(xué)器件結(jié)構(gòu)，將激光器、調(diào)制器、光電探測(cè)器和濾波器等眾多光學(xué)元件集成至單一光學(xué)芯片上，并與激光二極管、探測(cè)器陣列和光學(xué)透鏡結(jié)合，形成小型化的激光傳感模組。

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H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
Heliotis H9/H9M 均為工業(yè)級(jí)白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對(duì)比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級(jí)相干峰 / 相位解包裹重構(gòu) 3D 形貌，實(shí)現(xiàn)非接觸、納米級(jí)精度測(cè)量。H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀

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IQFROG超短脈沖分析儀
IQFROG超短脈沖分析儀（高靈敏性，光纖耦合輸入）是基于頻率分辨光學(xué)開關(guān)技術(shù)（FROG）實(shí)現(xiàn)對(duì)脈沖激光在時(shí)域和頻域的強(qiáng)度和相位測(cè)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)脈沖激光信號(hào)的精確表征。IQFROG超短脈沖測(cè)量儀配有大形成電動(dòng)延時(shí)平臺(tái)和高分辨率光譜儀，可實(shí)現(xiàn)up to 50ps脈寬的啁啾脈沖測(cè)量;對(duì)于傅里葉極限脈寬，其脈寬可測(cè)范圍能覆蓋0.3-10ps。

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TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec GmbH提供完整的光學(xué)表面計(jì)量解決方案，用于工程表面質(zhì)量檢測(cè)和形狀評(píng)估 - 無論是數(shù)控加工精密零件的平面度或臺(tái)階高度、光滑光學(xué)元件的翹曲和形狀，還是紋理、光潔度或 MEMS 和微結(jié)構(gòu)分析。TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）

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TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測(cè)量范圍與納米級(jí)分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Metro.Lab 形貌測(cè)量系統(tǒng)在針對(duì)大面積表面及結(jié)構(gòu)的平面度、臺(tái)階高度和平行度進(jìn)行非接觸式測(cè)量時(shí)表現(xiàn)好，哪怕面對(duì)柔軟嬌貴、極易受損的材料，也能精準(zhǔn)探測(cè)，毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）

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新一代便攜式色彩測(cè)量儀（測(cè)色儀）
一般的便攜式色彩測(cè)量儀器通常能滿足大多數(shù)要求，但其性能往往參次不齊。獨(dú)立式分光光度儀已成為昨日黃花，既無法您進(jìn)入色彩測(cè)量的未來，也不能確保質(zhì)量，但全新新一代便攜式色彩測(cè)量儀（測(cè)色儀）的亮相令人為之側(cè)目。

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