昊量光電/星朗浩宇瞬間多通道光譜儀

昊量光電/星朗浩宇瞬間多通道光譜儀

日本大塚電子深耕光學測量技術五十余年，長期專注于高精度光譜與材料分析儀器的研發(fā)。其 MCPD 系列多通道陣列光譜儀采用非掃描式分光檢測結構，可實現光譜的同步高速采集，廣泛應用于發(fā)光材料分析、薄膜光學測量及熒光檢測等領域。該系列產品在顯示面板、半導體制造及材料研發(fā)等工業(yè)與科研場景中具有成熟應用，是兼具測量穩(wěn)定性與工程可靠性的光譜分析設備平臺。

MCPD-9800是一款涵蓋紫外到近紅外波長范圍的多用途光譜儀，曝光時間下限可達5ms。配備了通用USB端口和LAN端口，可以通過512ch或1024ch探測器以5 微秒的間隔監(jiān)視UV / VIS / NIR光譜，進行高速和高靈敏度頻譜采集。產品使用標準光纖，可以配置柔性光學器件，免受樣品形狀和大小的任何限制。此外，可以輕松地集成到顯微鏡和大樣品臺，實現光學性能。MCPD系列均符合日本工業(yè)標準（JIS Z 8724）對光譜儀產品的質量和精度要求。可用于測量發(fā)光光譜透射/吸收光譜，反射光譜，光致發(fā)光，物體顏色，光源顏色（色度，亮度，照度），膜厚，等離子體發(fā)射光譜等對象，可以測量的技術參數包括微點光譜、光源、透射率、反射率、物體顏色和厚度等。

· 寬動態(tài)范圍，適合全光束測量

· 雜散光校正功能可進行紫外線測量

· 集成時間范圍5ms-65s，適用于微弱光測量、高速測量、在線測量等廣泛測量需求

· 輕量、緊湊的豎立式設計，尺寸比上一代縮小約60％

· 具備能應對多種用途的各種類型的探測器

· 高速、高靈敏度測量光譜

· 通信接口可對應USB和LAN

· 光纖探頭，可搭配其他探測件使用

· 精度滿足日本工業(yè)標準JIS Z8724中對分光測光器的所有要求

該產品產品優(yōu)勢：

根據用途的各種檢測器的陣容

以MCPD-9800為首，擁有兩個系列，共達9個波長范圍的檢測器型號。可配合客戶的需求與測量用途，選擇適合的檢測器。

通訊接口支持USB和LAN

具備了通用的USB端口，以及能滿足遠程遙控測量的LAN通信功能。便捷性和測量用途的范圍擴大。

高速、高感度測量光譜

利用512ch或者1024ch的檢測單元與檢測器內部的存儲器，對實時變化的紫外、可視、近紅外領域的發(fā)光、透過和吸收光譜，能夠以zui高速度5微秒（MCPD-9800機型的情況下）間隔進行高感度、高精度的測量。

利用光纖自由搭建光學系統(tǒng)

通過標準配置的光纖，不再受到樣品形狀和大小的約束，從而能夠搭建更自由的光學系統(tǒng)。另外，能更容易與顯微鏡、大型平臺等其他裝置進行組合，在所有領域都得以發(fā)揮其優(yōu)異的性能。此外，它很容易與顯微鏡和大型載物臺等其他設備結合使用，因此在各個領域都表現出卓zhuo越的性能。

性能滿足日本工業(yè)標準（JIS）的高性能分光測光器

MCPD能滿足日本工業(yè)標準JIS z 8724（顏色的測量方法-光源色)中對分光測光器的所有精度要求，盡可放心使用。

標準可追溯提供可靠的校準服務

在根據計量法制定的校正實驗室注冊制度（JCSS*1注冊制度）下，大塚電子的光計測實驗室被認定為屬于“光"注冊分類的國際MRA*2對應的JCSS校正實驗室。為了公平公正地評估照明器具和光源的性能，國內外都在推進光特性測量方法的規(guī)格化等各種各樣的標準化，這些標準化所要求的測光均以“光"的可追溯性為基本。本次認定后，大塚電子開啟了新的“光"校正事業(yè)，通過提供測光的可追溯性，努力為普及和發(fā)展節(jié)能環(huán)保的照明貢獻自己的力量。

滿足多樣化需求的定制生產！

擁有豐富的附屬配件、選配單元和分析軟件。通過積累的技術和know-how，為客戶需求提供高水平技術支持。

機型對比：

MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統(tǒng)。可以瞬間進行分光光譜測量，也可以通過自由組合的光學系統(tǒng)和豐富的配件搭建各式各樣的測量系統(tǒng)，測量波長范圍有4款型號可選。（具體型號及參數可聯系產品負責人獲取）

MCPD-9800是該產品MCPD系列的premium model，具有更寬的動態(tài)范圍，低雜散光功能以及更高速、更高再現性的性能。更適用于紫外定量評估、量子效率測量、在線測量為首的高精度測光系統(tǒng)。

該產品應用實例：