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激光測(cè)量設(shè)備

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RM3000+昊量/星朗Jandel通用四探針?lè)阶铚y(cè)量?jī)x
昊量/星朗Jandel通用四探針?lè)阶铚y(cè)量?jī)x以四探針?lè)阶铚y(cè)試專家——Jandel為核心定位，配備RM3000+測(cè)試單元和多高度探針支架，支持薄膜、晶圓及錠材的方阻與體積電阻率測(cè)量。

型號(hào)：RM3000+ 廠商性質(zhì)：代理商
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AR近眼顯示測(cè)試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L
AR近眼顯示測(cè)試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L系統(tǒng)核心功能包括測(cè)量亮度、色度、對(duì)比度、視場(chǎng)角（FOV）和眼盒（eye-box）等關(guān)鍵參數(shù)，同時(shí)評(píng)估圖像均勻性、畸變、清晰度（如調(diào)制傳遞函數(shù)，MTF）、漏光/鬼影以及雙目融合/視差，這些指標(biāo)直接影響圖像質(zhì)量和視覺(jué)舒適度。?

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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便攜式熒光檢測(cè)儀Lu-mini
便攜式熒光檢測(cè)儀Lu-mini無(wú)需額外的適配器。可以直接使用直徑在10到15毫米之間的圓管和試管以及10毫米邊長(zhǎng)的方形比色皿。

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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在線方塊電阻測(cè)試儀
EddyCus TF inline在線方塊電阻測(cè)試儀可以測(cè)量薄層的性能，如金屬層厚度，薄層電阻，輻射系數(shù)，殘余水分或在各種基材上的非接觸克重。相關(guān)基材有玻璃、箔、紙、晶圓片、塑料或陶瓷。通過(guò)常駐測(cè)量或觸發(fā)事件進(jìn)行監(jiān)測(cè)，以在快速移動(dòng)的涂層過(guò)程中獲得等距離的結(jié)果。檢測(cè)解決方案可以在大氣或真空條件下實(shí)施。基于電渦流技術(shù)的檢測(cè)過(guò)程高采樣率更高。可以使用客戶的軟件為過(guò)程控制系統(tǒng)提供測(cè)量結(jié)果。

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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非接觸式薄層電阻測(cè)試儀
非接觸式薄層電阻測(cè)試儀：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測(cè)量的非接觸式方阻測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款非接觸式方塊電阻測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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