| 品牌 | OTSUKA/大塚電子 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 型號 | MINUK |
| XY分辨率 | 691 nm（單次），488 nm（成分） | XY視場 | 700 × 700 μm |
| Z向分辨率 | 10 nm（延遲） | Z向視場 | ±700 μm |
| 樣本尺寸 | 100 × 80 × t20 mm（連接多功能樣品架時） | 樣品臺 | 自動XY載物臺±10 mm；粗調(diào)載物臺129 × 85 mm |
| 激光 | 638 nm，輸出0.39 mW以下，Class 1 | 尺寸重量功耗 | 505 × 630 × 439 mm，41 kg，本體290 VA |
昊量光電/星朗浩宇光波動場三維顯微鏡
昊量光電/星朗浩宇光波動場三維顯微鏡MINUK
無損、無需對焦，實(shí)現(xiàn)納米級檢測與超高速三維成像
公司簡介
大塚電子（Otsuka Electronics）是一家日本高科技企業(yè)，專注于光學(xué)精密測量與分析技術(shù)的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化，核心技術(shù)涵蓋光散射分析、粒徑與Zeta電位測量、薄膜厚度檢測及光譜分析等領(lǐng)域。公司以非接觸、非破壞式光學(xué)檢測為核心優(yōu)勢，為半導(dǎo)體、顯示面板、新材料、生物醫(yī)藥等多個行業(yè)提供高精度測量與檢測解決方案。
MINUK該產(chǎn)品
MINUK是日本大塚電子2024年發(fā)布的面向透明/半透納材料納米級檢測的該產(chǎn)品。不僅可以評估納米量級的透明異物和缺陷，單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測量。另外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。
。通過向測量對象物照射激光，而對象物的厚度和折射率會發(fā)生變化，進(jìn)而導(dǎo)致波面變化，針對這種變化，使用波前傳感器其進(jìn)行捕捉，而后使用軟件進(jìn)行數(shù)值解析，再現(xiàn)圖像。通過這一設(shè)備，使用者可瞬時獲取1400微米深度方向的對焦信息，在對此信息進(jìn)行數(shù)碼重新對焦后，可進(jìn)行三維構(gòu)造的追加驗(yàn)證。同時，在獲取數(shù)據(jù)后，設(shè)備可在之后通過軟件在任意的深度和位置進(jìn)行重新對焦。700微米×700微米的寬廣視野，可捕捉到小于0.5微米的線的寬度，實(shí)現(xiàn)高分辨率，且由于光學(xué)系未使用透鏡，因此成像無失真和像差。--
該產(chǎn)品產(chǎn)品特點(diǎn)
可評價納米級的透明異物、缺陷、傷痕的大小、厚度、形狀。
一次拍照即可瞬時獲取深度方向的信息。
無需對焦，可高速測量。
可非破壞、非接觸、非侵入的測量。
可在任意的面進(jìn)行高速掃描，輕松決定測量位置。
該產(chǎn)品技術(shù)特點(diǎn)
大視野·高速測量·透明可視化
以往顯微鏡與MINUK比較
多種模式可選
該產(chǎn)品應(yīng)用實(shí)例
該產(chǎn)品產(chǎn)品參數(shù)
分辨率 x，y | 691 nm（單次），488 nm（成分） | |||
視場 x，y | 700×700微米 | |||
分辨率 z | 10 nm（延遲） | |||
視場 z | ±700微米 | |||
樣本尺寸 | 100×80×t20 mm | |||
（連接多功能樣品架時） | ||||
樣品臺 | 用于微調(diào)的自動 XY 載物臺 | |||
X：±10 mm Y：±10 mm | ||||
用于粗調(diào)的載物臺 | ||||
X：129 mm Y：85 mm | ||||
激光 | 波長 638 nm | |||
輸出 0.39 mW 以下，Class1 | ||||
（對樣品的照射強(qiáng)度） | ||||
尺寸 | 主機(jī)：505（W）×630（D）×439（H） | |||
（寬度×深度×高度）毫米 | ||||
重量 | 41 千克 | |||
功耗 | 本體：290VA | |||
*不包括PC和其他配件 | ||||
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號6號樓3樓
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