| 品牌 | 昊量光電 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 多晶衍射儀 | 應用領域 | 綜合 |
| X射線發生器 | 40 kV / 30 mA (1200 W) 或 40 kV / 15 mA (600 W) | X射線靶材 | Cu（可選：Cr, Co, Fe, Mo） |
| 冷卻系統 | 內部水冷（閉環） | 測角儀 | 垂直 θ-θ 獨立驅動，半徑 150-210 mm |
| 2θ掃描范圍 | -12° 至 +160° | 光源角度范圍 | -6° 至 +125° |
| 探測器角度范圍 | -6° 至 +145° | 最小步長 (2θ) | 0.0003° |
| 定位精度 (2θ) | ±0.01° | 掃描速度 | 0.01 - 600°/min |
昊量光電/星朗浩宇X射線衍射分析儀 (XRD)
昊量光電/星朗浩宇X射線衍射分析儀 (XRD)適用于相關科研和工業應用場景，具備穩定可靠、操作便捷和便于系統集成等特點。
臺式設計，緊湊安全，維護簡便！
XRD TELLUS 系列是一款兼顧緊湊設計與高性能的臺式粉末X射線衍射儀，旨在滿足從教育、科研到工業過程控制的多層次需求。TELLUS Pro 是新一代研究級臺式X射線衍射儀，專為材料分析而設計。它具備增強的性能和許多功能，可支持薄膜、結構分析和殘余應力研究，廣泛適用于學術研究和工業環境。
TELLUS PRO專為學術研究工業任務而打造。不僅能完成標準粉末衍射，還支持多種復雜測量，是一臺功能全面的科研級設備。
該產品主要特點
獨立的雙軸測角儀：配備高精度測角儀，驅動臂獨立運動，支持對稱和非對稱掃描幾何，提供靈活的測量方案。
雙軸樣品臺：電動樣品臺帶有兩個旋轉軸，可進行精確定位和對準，是薄膜和殘余應力測量的理想選擇。
光學系統：配備戈貝爾鏡和平行板準直器，確保在掠入射、反射測量和織構分析中獲得高質量數據。
寬廣的角度范圍：2θ掃描范圍寬廣（-12°至+160°），兼顧低角度和高角度測量，全面覆蓋材料研究需求。
無需外部冷卻：高效的內部閉環水冷系統，簡化安裝，降低維護成本。
多測量模式：原生支持GIXRD、XRR、殘余應力、織構分析等專業技術。
該產品技術參數
| 項目 | 規格指標 |
| X射線發生器 | 40 kV / 30 mA (1200 W) 或 40 kV / 15 mA (600 W) |
| X射線靶材 | Cu（可選：Cr, Co, Fe, Mo） |
| 冷卻系統 | 內部水冷（閉環） |
| 測角儀 | 垂直 θ-θ 獨立驅動，半徑 150-210 mm |
| 2θ掃描范圍 | -12° 至 +160° |
| 光源角度范圍 | -6° 至 +125° |
| 探測器角度范圍 | -6° 至 +145° |
| Min步長 (2θ) | 0.0003° |
| 定位精度 (2θ) | ±0.01° |
| 掃描速度 | 0.01 - 600°/min |
| Max半高寬 (FWHM) | ≤ 0.03° |
| 探測器 | 光子計數硅探測器：ADVACAM MiniPIX TPX3 (2D) 或 DECTRIS MYTHEN2 R (ID) |
| 接口 | USB / 以太網 |
| 計算機 | 配有Windows操作系統 |
| 主機尺寸 (寬×深×高) | 700 mm × 700 mm × 860 mm |
該產品應用領域
晶體結構測定（包括晶格參數）
多組分樣品的物相分析
結構分析
殘余應力評估
X射線反射測量（XRR）
掠入射X射線衍射（GIXRD）
變溫X射線衍射測量
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
