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專用實(shí)驗(yàn)設(shè)備

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昊量/星朗nanoSAQLA多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)
昊量/星朗nanoSAQLA多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，nanoSAQLA能大限度地提高生產(chǎn)力并更快地開發(fā)更好的產(chǎn)品，助您更好控制和理解顆粒尺寸和尺寸分布！，采用動(dòng)態(tài)光散射法測量0.6nm至10μm粒徑，支持5個(gè)樣品連續(xù)測量。

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昊量光電/星朗浩宇五軸光學(xué)測試系統(tǒng)
搭載PR專業(yè)級(jí)光譜輻射度計(jì)的五軸光學(xué)測試系統(tǒng)，滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和量產(chǎn)產(chǎn)線測試需求！系統(tǒng)支持平面屏、曲面屏和折疊屏的亮度、色度、均勻度及視角分布測量，可自動(dòng)生成分析報(bào)表。昊量光電/星朗浩宇五軸光學(xué)測試系統(tǒng)

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昊量光電/星朗浩宇自動(dòng)三軸光學(xué)測試系統(tǒng)
搭載PR專業(yè)級(jí)光譜輻射度計(jì)的自動(dòng)三軸光學(xué)測試系統(tǒng)，滿足實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)快速測試需求！系統(tǒng)集成XYZ精密伺服運(yùn)動(dòng)、CCD視覺對(duì)位和專用軟件，可完成顯示屏光學(xué)參數(shù)、均勻度和暖機(jī)時(shí)間測量，并生成數(shù)據(jù)報(bào)表。昊量光電/星朗浩宇自動(dòng)三軸光學(xué)測試系統(tǒng)

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ELWIMAT昊量光電/星朗浩宇楔形角度測量儀
昊量光電/星朗浩宇楔形角度測量儀- Min. 0.0001°，光學(xué)元件的楔形角測量（0.0001°至6°），兼容反射和透射測量，自動(dòng)評(píng)估楔形角，HOFBAUER Optik的-楔形楔角測量設(shè)備是光學(xué)生產(chǎn)計(jì)量中精確楔形角測量和平行度測試的理想解決方案。

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昊量/星朗手持式金屬厚度光電測試儀
昊量/星朗手持式金屬厚度光電測試儀是一款非接觸測量方塊電阻，高速，高精度，低備樣需求的便攜式測試設(shè)備。該產(chǎn)品可用于導(dǎo)電薄膜、薄金屬層和金屬方塊電阻測量等材料分析應(yīng)用。

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VR_MR測試系統(tǒng)AL-6100-VR140(L)
VR_MR測試系統(tǒng)AL-6100-VR140(L)，可以搭配Aunion Tech的高分辨率成像式亮度色度計(jì)，通過6100萬或1億像素的高分辨率不僅實(shí)現(xiàn)了對(duì)NED產(chǎn)品的大視野測量，PPD（pixel per degree）達(dá)到70像素/度。

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疊層太陽能電池測試系統(tǒng)（太陽光模擬器）
疊層太陽能電池測試系統(tǒng)（太陽光模擬器），內(nèi)置光譜儀和強(qiáng)度傳感器與校準(zhǔn)程序相結(jié)合，使重新校準(zhǔn)非常簡單。

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AUT-XperP-Projector無掩膜智能投影光電流系統(tǒng)
無掩膜智能投影光電流系統(tǒng)AUT-XperP-Projector，高頻灰度實(shí)現(xiàn)線性可調(diào)的同時(shí)可以快速切換長度，來對(duì)整個(gè)陣列的所有器件進(jìn)行激發(fā)。

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同步源測系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻
同步源測系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻專為自動(dòng)精密測量電阻和相關(guān)量而設(shè)計(jì)。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2將直流和交流測量與集成開關(guān)矩陣結(jié)合在一起。

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錐形光纖探針掃描系統(tǒng)
錐形光纖探針掃描系統(tǒng)GalvoStation是一種單通道光電激光設(shè)備，錐形光纖探針掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于使用Lambda Fibers進(jìn)行空間選擇性光傳輸和收集。GalvoStation允許將Lambda光纖發(fā)出的光限制在其有效長度的子位置。

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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測系統(tǒng)
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測系統(tǒng)利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2的集成開關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)無限的精度和穩(wěn)定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測量。

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時(shí)域熱反射測量系統(tǒng) （TDTR 測試系統(tǒng)）
我司新推出的時(shí)域熱反射測量系統(tǒng)可用于測量金屬薄膜、塊體或液體的熱導(dǎo)率、界面熱阻等多項(xiàng)熱物性參數(shù)，薄膜測量厚度可達(dá)納米量級(jí)！在微納結(jié)構(gòu)新材料的研發(fā)與分析等方面得以越來越廣泛的應(yīng)用。時(shí)域熱反射測量系統(tǒng) （TDTR 測試系統(tǒng)）

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