| 品牌 | 昊量光電 | 系統構成 | hiXAS硬X射線系統；proXAS軟X射線系統 |
|---|---|---|---|
| 測試模式 | XANES/NEXAFS近邊；EXAFS擴展邊 | hiXAS能量范圍 | 標準4.5～25 keV，支持更高能區定制 |
| hiXAS分辨率 | XANES 4000；EXAFS 1800 | hiXAS測試時間 | EXAFS快至3分鐘；XANES快至8分鐘 |
| EXAFS通帶 | 1000 eV | proXAS能量范圍 | 200～1200 eV |
| proXAS分辨率 | 1900；譜峰位置偏差＜0.06% | proXAS光源 | 無碎片激光等離子體XUV光源；功率穩定性±1.5% |
| proXAS占地 | 1.5 m×1.0 m |
昊量/星朗一體化XAS系統—軟X射線到硬X射線
昊量/星朗一體化XAS系統—軟X射線到硬X射線適用于相關科研和工業應用場景，具備穩定可靠、操作便捷和便于系統集成等特點。
軟 X 探表面，硬 X 析體相，一站式實驗室 XAS 系統
昊量光電的XANES/EXAFS系統是實驗室級 X 射線吸收譜，核心定位是將同步輻射級別的 XAS 檢測能力落地到常規實驗室，讓科研人員無需申請、等待同步輻射機時，即可在室內完成 X 射線吸收近邊結構（XANES/NEXAFS）與擴展邊精細結構（EXAFS）測試。
吸收邊附近的NEXAFS區域表現出X射線吸收系數的zui大變化，通常以強烈而狹窄的共振峰為主，這些共振峰源于芯電子向非束縛能級的躍遷。NEXAFS對局域原子態（如氧化態）敏感。
EXAFS結構則源于發射出的光電子的波動特性，這些光電子被周圍原子散射，通過相長干涉和相消干涉形成振蕩，進而可用于推斷鍵長及鄰近原子的相關信息。
產品矩陣覆蓋軟 X 射線 - 硬 X 射線全場景，包含兩款功能互補的一體化系統：面向硬 X 射線、支持全功能 XAS 測試的hiXAS，以及面向軟 X 射線 / 極紫外波段、專注表面 NEXAFS 分析的proXAS，廣泛服務于催化、能源、材料、地質、生物等領域的基礎研究與工業研發。
hiXAS 一體化硬 X 射線 XAS 系統
hiXAS 是實驗室級交鑰匙 X 射線吸收譜系統，基于 X 射線管光源 + von Hamos 構型 HAPG 晶體光譜儀，同時支持XANES（近邊）與EXAFS（擴展邊）兩種測試模式，主打硬 X 射線波段的體相結構與價態分析。
hiXAS的核心優勢
同步輻射級數據品質：XANES 分辨率 4000，EXAFS 分辨率 1800，全能量范圍穩定，譜圖與同步輻射高度吻合
非掃描快速原位測試：寬譜一次性采集，EXAFS 快至 3 分鐘、XANES 快至 8 分鐘；支持數天級原位 / 工況長時動態追蹤
高靈敏寬通帶：低至 wt% 級元素檢出限，EXAFS 通帶達 1000eV，單次測試覆蓋近邊 + 擴展邊
能區廣可定制：標準 4.5-25keV，覆蓋 3d 過渡金屬至 Zr、Pt、U 等中重元素，支持更高能區定制
一體化易拓展：自帶控制與分析軟件，雙樣品端口，支持批量測試與加熱、電化學池等原位環境搭建
hiXAS元素范圍
hiXAS典型應用
催化領域：電解水 OER 催化劑、合成氣催化、單原子 / 高熵催化劑的原位過程表征
能源存儲：電池電極材料充放電過程的價態演化與鍵長變化追蹤
環境與核材料：放射性元素價態分析、核電材料腐蝕產物表征
材料研究：合金、MOF、化合物的短程有序結構、化學形態解析
proXAS 桌面型軟 X 射線 NEXAFS 系統
proXAS 是global一款商用集成式桌面 NEXAFS 系統，基于高可靠激光等離子體 XUV 光源，專注軟 X 射線 / 極紫外波段（200-1200eV）的近邊吸收譜測試，主打高表面靈敏度與輕元素分析能力。
proXAS核心優勢
桌面級方案：打破軟 X 射線 NEXAFS 對同步輻射的依賴，常規實驗室即可開展測試
超高表面靈敏度：軟 X 射線天然表面敏感，精密解析樣品表層分子軌道、氧化態、配位數與分子取向
同步輻射級精度：分辨率達 1900，譜峰位置偏差 < 0.06%，多色光快速采集
穩定緊湊易部署：無碎片激光等離子體光源，功率穩定性 ±1.5%；占地僅 1.5m×1.0m，適配標準實驗臺
低檢出限：輕元素zui低檢測濃度可達 0.2wt%，適配低含量樣品分析
proXAS元素范圍
proXAS典型應用
表面科學：聚合物薄膜、二維材料、改性涂層的表面化學態與電子結構表征
有機與生物材料：高分子、脂質膜、腐殖酸的 C/N/O 輕元素結構分析
地球化學：氧化物礦物的氧邊化學態、地質樣品元素形態研究
輕功能材料：碳基材料、鈣鈦礦等體系的氧化態與電子結構解析
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