中紅外分光光度計-LINZA 2752系列

直測曲面透鏡，大容量樣品倉與滑動式探測器，中紅外快速檢測

中紅外分光光度計-LINZA 2752系列 2752 是為中波紅外（MWIR）波段設(shè)計的高性能分光光度計，有效波長范圍覆蓋 2.7 μm–5.2 μm（2700–5200 nm），主要用于單枚透鏡及多透鏡組件（物鏡）的軸上透射測量。大多數(shù)光學(xué)元件均為透鏡，形狀涵蓋凸面、凹面、柱面和非球面等多種類型。透鏡在真空鍍膜室中完成鍍膜后，通常使用平面參考樣品來監(jiān)控工藝過程。然而曲面透鏡上的鍍膜特性往往與平面參考樣品存在偏差，這使得了解真實透鏡的透射率變得至關(guān)重要。以此行業(yè)難題為出發(fā)點，LINZA 2752 的設(shè)計目標(biāo)是對實際曲面光學(xué)元件進行直接測量，打破僅依賴平面參考樣品進行性能評價的傳統(tǒng)局限。這款設(shè)備配備了寬敞的樣品倉和滑動式探測器模塊，能夠測量單枚透鏡直徑 10 mm 至 150 mm 的透鏡，以及端到端總長可達(dá) 680 mm 的完整透鏡組件（物鏡），涵蓋從透鏡鍍膜完成后到組件交付全線階段的光譜性能可追溯。該儀器主要應(yīng)用于單透鏡測量、多透鏡系統(tǒng)檢測、鍍膜基底評價以及紅外觀測、紅外傳感系統(tǒng)的性能驗證，是光學(xué)制造生產(chǎn)線和產(chǎn)品出廠前檢驗環(huán)節(jié)的理想工具，可顯著縮短生產(chǎn)節(jié)拍周期，提高質(zhì)檢效率。

規(guī)格參數(shù)：

產(chǎn)品特點：

• 大容量樣品倉與滑動式探測器

• 專為曲面光學(xué)元件設(shè)計的直接測量方案

• 廣泛的兼容性

• 高效的光譜掃描速度

• 高精度光學(xué)參數(shù)

• 參考通道設(shè)計

• 專用軟件支持

應(yīng)用方向：

LINZA 2752 主要面向中波紅外光學(xué)元件的研發(fā)與生產(chǎn)質(zhì)檢。其核心應(yīng)用涵蓋以下領(lǐng)域：

• 紅外光學(xué)透鏡鍍膜表征： 對鍍膜后的單枚透鏡（凸透鏡、凹透鏡、非球面透鏡）、多透鏡組件及完整物鏡進行軸上透射光譜測量，評估增透膜、高反膜等紅外鍍膜在中波紅外波段（2.7–5.2 µm）的實際光學(xué)性能，為鍍膜工藝優(yōu)化提供直接數(shù)據(jù)。

• 紅外成像與傳感光學(xué)系統(tǒng)驗證： 適用于紅外熱成像儀、中波紅外探測器、MWIR 光學(xué)傳感設(shè)備中的透鏡組件性能評估，確保組裝后的整機系統(tǒng)在中波紅外觀測波段達(dá)到設(shè)計預(yù)期的透射指標(biāo)。

• 光學(xué)鏡片來料檢驗： 在鏡片供應(yīng)鏈中，采用 LINZA 2752 對采購的中波紅外透鏡與鏡頭組件進行全檢或抽樣檢測，確保入庫光學(xué)元件的中波紅外透射率符合采購技術(shù)規(guī)范要求，從源頭控制光學(xué)系統(tǒng)裝配質(zhì)量的一致性。

• 質(zhì)量認(rèn)證與出貨前檢驗： 為光學(xué)透鏡和物鏡制造商在生產(chǎn)線上配備 LINZA 2752 中波紅外光譜測量能力，在產(chǎn)品交付前對成品進行出廠檢測與認(rèn)證，大幅降低客戶端的批次性退貨風(fēng)險。

• 光學(xué)材料篩選： 對硅（Si）、鍺（Ge）、硫化鋅（ZnS）、硒化鋅（ZnSe）、硫系玻璃等中波紅外光學(xué)材料的基底材料和鍍膜元件進行透射光譜表征，篩選合格的光學(xué)材料用于紅外光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與裝配。